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D I S S E R T A T I O N

Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress

ausgeführt zum Zwecke der Erlangung des akademischen Grades
eines Doktors der technischen Wissenschaften
unter der Leitung von

Ao.Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Tibor GRASSER

Institut für Mikroelektronik

eingereicht an der Technischen Universität Wien

Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik

von

Dipl.-Ing. Bianka ULLMANN

0425601 / E 786 710

Wien, am 28. Mai 2018

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