D.1.8 Rauschanalyse

Die Rauschanalyse berechnet das Rauschverhalten eines Netzwerkes. Die Angabe des Rauschens kann als Ausgangssignal oder als äquivalentes Eingangssignal angegeben werden. Die Rauschanalyse ist bei hoch verstärkenden Schaltungen interessant. Es gibt drei prinzipielle Arten des Rauschens. An allen Widerständen (inklusive der internen) tritt ein Thermisches Rauschen, auch Widerstandsrauschen genannt, auf. In Halbleiterelementen (z.B. Diode) tritt zusätzlich noch das Schrottrauschen (Shot Noise) und das Funkelrauschen (Flicker Noise) auf. Für die Rauschanalyse wird meistens das ``Adjoint Network'' Konzept verwendet [148][128].

Größe des Widerstandsrauschens [111]:

k

Boltzmann Konstante

T

Temperatur in Kelvin

B

Bandbreite in Hertz

Größe des Schrottrauschens [148][111]:

q

Ladung in der Sperrschicht des Halbleiters

I

Strom durch die Diode

B

Bandbreite in Hertz

Größe des Funkelrauschens [148][111]:

K

Meßwert (Si-Diode: , FET: )

a

Meßwert (meistens 1)

B

Bandbreite in Hertz

f

Frequenz