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D I S S E R T A T I O N

Experimental Characterization of Bias Temperature Instabilities in Modern Transistor Technologies



ausgeführt zum Zwecke der Erlangung des akademischen Grades
eines Doktors der technischen Wissenschaften

eingereicht an der Technischen Universität Wien
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik

von

Michael Waltl

Athalerstrasse 24
5122 Ach, Österreich

Matrikelnummer 0425825
geboren am 4. März 1984 in Oberndorf bei Salzburg

Wien, im September 2016

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