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10.2 MOSFET

MOS-Feldeffekttransistoren sind wohl die von der Miniaturisierung im VLSI-Bereich am stärksten betroffenen Bauelemente.

Als Beispielimplementierung wird eine Funktion vorgestellt, die die Daten eines MOSFET erzeugt. Es handelt sich dabei um ein n-Kanal lowpower Bauteil mit sehr dünnem Gate-Oxid und spacers [37].

Alle wichtigen Parameter seiner Geometrie und Dotierung können eingestellt werden.

(defun ped::mosfet
  (&key
   ; Geometrie
   (left 0.)                    ; x-Koordinate des linken Randes
   (width 1.0)                  ; Breite des Bauteils
   (bulkdepth 1.0)              ; Tiefe des Bauteils
   (oxideheight 0.002)          ; Gateoxid-Dicke
   (gatewidth 0.34)             ; Laenge des Gate
   (gateheight 0.3)             ; Dicke des Poly-Gates
   (spacerwidth 0.1)            ; Breite der Spacer
   (sourceheight 0.05)          ; Dicke des Source-Kontaktes
   (drainheight 0.05)           ; Dicke des Drain-Kontaktes
   (gatecontactheight 0.05)     ; Dicke des Gate-Kontaktes
   (spacerheight gateheight)    ; Hoehe der Spacer

   ; Material
   (substrat-material "Si")     ; Substratmaterial
   (contact-material "Silicide"); Kontakt-Material
   (gate-material "SiO2")       ; Gate-Isolier-Material
   (spacer-material "SiO2")     ; Spacer-Isolier-Material

   ; Gitter
   (hsplit 40)                  ; Zahl horizontaler Gitterlinien
   (vsplit 20)                  ; Zahl vertikaler Gitterlinien
   (gridtype 'ORTHOGRID)        ; Gittertyp

   ; Dotierungen
   (donator-mat "P")            ; Dontator-Material
   (acceptor-mat "B")           ; Akzeptor-Material
   (major-mat donator-mat)      ; Majoritaeten - n-Kanal!
   (minor-mat acceptor-mat)     ; Minoritaeten

   ; Dotierung mit Majoritaets-Material
   (major-backgr 2e16)          ; Grund-Dotierung
   (major-source-max 5e19)      ; Maximale Source-Dotierung
   (major-drain-max 5e19)       ; Maximale Drain-Dotierung
   (major-chann-max 1e18)       ; Maximale Kanal-Dotierung
   (major-buried-max 5e17)      ; Maximale Dotierung des Buried-Layer
   (major-source-hor 0.05)      ; Lateraler Abfall der Source-Dotierung
   (major-source-vert 0.06)     ; Vertikaler Abfall der Source-Dotierung
   (major-drain-hor 0.05)       ; Lateraler Abfall der Drain-Dotierung
   (major-drain-vert 0.06)      ; Vertikaler Abfall der Drain-Dotierung
   (major-chann-hor 0.04)       ; Lateraler Abfall der Kanal-Dotierung
   (major-chann-vert 0.05)      ; Vertikaler Abfall der Kanal-Dotierung
   (major-buried-vert 0.36)     ; Vertikaler Abfall des Buried-Layer
   (major-source-fac 1.2)       ; Ueberlappung Source-Dotierung mit Spacer
   (major-drain-fac 1.2)        ; Ueberlappung Drain-Dotierung mit Spacer
   (major-cfac 0.6)             ; Relative Breite der Kanal-Dotierung

   ; Dotierung mit Minoritaets-Material
   (minor-chann-peak 5e17)      ; Maximale Kanal-Dotierung
   (minor-chann-vert 0.2)       ; Vertikaler Abfall der Kanal-Dotierung
   (minor-buried-peak 5e17)     ; Maximale Dotierung des Buried-Layer
   (minor-buried-vert 0.4)      ; Vertikaler Abfall des Buried-Layer

   figure2610
Abbildung 10.4: Die Geometrie des MOSFET

   figure2621
Abbildung 10.5: Die Phosphor-Konzentration des MOSFET



Martin Knaipp
Wed Jun 12 15:41:33 MET DST 1996