4.5.1 Transiente Generations- und Rekombinationsströme



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4.5.1 Transiente Generations- und Rekombinationsströme

In der Abbildung 4.10 sind die Grenzflächen-Generationsströme für Elektronen und Löcher für das Frontinterface (FI) und das Backinterface (BI) getrennt dargestellt. Beim oberen Teil der Abbildung handelt es sich um die steigende Pulsflanke der Frontgate-Spannung, wobei sich das Backinterface - korrespondierend zum Mechanismus A - in Inversion befindet. Der untere Teil der Abbildung korrespondiert zum Mechanismus B: Fallende Pulsflanke der Frontgate-Spannung, das Backinterface befindet sich in Akkumulation.

  
Abbildung 4.10: Grenzflächen-Generationsströme an Front- (FI) und Backinterface (BI): Invertiertes Backinterface (=) bei steigender Flanke der Frontgate-Spannung im oberen Bild; akkumuliertes Backinterface (=) bei fallender Flanke der Frontgate-Spannung im unteren Bild. -BI im oberen Bild und -BI im unteren Bild (beide punktiert eingetragen) erzeugen die parasitäre CP-Komponente.



Martin Stiftinger
Fri Oct 14 21:33:54 MET 1994