4.5.2 Elektronen und Löcher-Komponente im Vergleich



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4.5.2 Elektronen und Löcher-Komponente im Vergleich

 

Um die Rolle von Elektronen und Löchern zu trennen, wurde ein CP-Experiment simuliert, in dem die Flankensteilheiten der Frontgate-Spannung getrennt im Bereich bei Konstanthaltung der komplementären Flankensteilheiten = variiert wurden. Als zusätzlicher Parameter tritt die Spannung am Backgate () in Erscheinung. Die Ergebnisse sind der Abbildung 4.11 zu entnehmen (siehe auch die korrespondierende Abbildung 11a in [76]).
Die Kanallänge von = ist groß genug, um eine deutlich meßbare geometrische CP-Komponente zu erzeugen. Während die Kurven für variable steigende Flanke bei akkumuliertem Backinterface bzw. für fallende Flanke bei invertiertem Backinterface streng linear verlaufen, steigen die beiden verbleibenden Kurven bei kurzen Pulsflanken scharf an. Der Grund für die unterschiedlichen Steigungen der beiden linearen Kurven liegt, wie im Abschnitt 4.3.3 ausführlich diskutiert, in der als linear angenommenen Verteilung der Frontinterface-Störstellen im verbotenen Band (siehe Abbildung 4.6 im Abschnitt 4.3).

  
Abbildung: in Abhängigkeit der Flankensteilheit bei = und in Abhängigkeit von bei =, beide für invertiertes (=) und akkumuliertes (=) Backinterface. Die dimensionale Komponente erscheint deutlich bei invertiertem Backinterface und variabler steigender Flanke (Mechanismus A) bzw. bei akkumuliertem Backinterface und variabler fallender Flanke (Mechanismus B).



Martin Stiftinger
Fri Oct 14 21:33:54 MET 1994