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Phosphor-Implantation mit 50keV

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Abbildung 6.11: Vergleich des Simulationsergebnisses mit der SIMS\ Messung. Die durchgezogene Linie repräsentiert das Histogramm der Monte Carlo Simulation, die punktierte Linie und die Symbole kennzeichnen die experimentellen Daten.

Phosphor weist gegenüber Bor eine ca. dreimal so große atomare Masse auf und kann daher nicht mehr so effektiv gestreut werden. Auf Grund seiner höheren Ordnungszahl kann dieses Ion auch größere kritische Winkel tex2html_wrap_inline12349 zu den Kanälen einnehmen, ohne dabei die Kanalisierung zu verlieren. Das Dotierstoffprofil in Abbildung 6.11 verläuft daher um vieles steiler als ein vergleichbares Bor-Profil (Abbildung 6.2). Das Massenverhältnis erklärt ebenfalls die stärkeren Gitterschäden bei einer Phosphor-Implantation (vgl.\ Abbildungen 6.4 und 6.13).

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Abbildung 6.12: Simulation einer Punktantwort mit 50keV-Phosphor-Ionen und die daraus resultierende Phosphor-Konzentration in [cm-3].

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Abbildung 6.13: Simulation einer Punktantwort mit 50keV-Phosphor-Ionen und die daraus resultierende Silizium-Interstitial-Konzentration in [cm-3].



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