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Publication list for members of
E360 - Institute for Microelectronics
as any persons named in the publication record

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Doctor's Theses (authored and supervised)


137. S. Papaleo:
"Mechanical Reliability of Open Through Silicon Via Structures for Integrated Circuits";
Reviewer: H. Ceric, O. Thomas; E360, 2016, oral examination: 19.12.2016.

136. R. Stradiotto:
"Characterization of Electrically Active Defects at III-N/Dielectric Interfaces";
Reviewer: T. Grasser, G. Meneghesso; E360, 2016, oral examination: 16.12.2016.

135. M. Rovitto:
"Electromigration Reliability Issue in Interconnects for Three-Dimensional Integration Technologies";
Reviewer: H. Ceric, K. Weide-Zaage; E360, 2016, oral examination: 13.12.2016.

134. F. Rudolf:
"Symmetry- and Similarity-Aware Volumetric Meshing";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pottmann; E360, 2016, oral examination: 10.11.2016.

133. Z. Stanojevic:
"Physical Mobility Modeling for TCAD Device Simulation";
Reviewer: H. Kosina, F. Gamiz; E360, 2016, oral examination: 26.09.2016.

132. M. Waltl:
"Characterization of Bias Temperature Instabilities in Modern Transistor Technologies";
Reviewer: T. Grasser, D. Schmitt-Landsiedel; E360, 2016, oral examination: 09.09.2016.

131. W. H. Zisser:
"Electromigration in Interconnect Structures";
Reviewer: S. Selberherr, M. Kaltenbacher; E360, 2016, oral examination: 21.06.2016.

130. J. Ghosh:
"Modeling Spin-Dependent Transport in Silicon";
Reviewer: V. Sverdlov, M. Bescond; E360, 2016, oral examination: 03.03.2016.

129. P. Ellinghaus:
"Two-Dimensional Wigner Monte Carlo Simulation for Time-Resolved Quantum Transport with Scattering";
Reviewer: S. Selberherr, I. Dimov; E360, 2016, oral examination: 25.02.2016.

128. R. Coppeta:
"Dislocation Modeling in III-Nitrides";
Reviewer: T. Grasser, A. Köck; E360, 2015, oral examination: 15.06.2016.

127. Yu. Illarionov:
"Characterization and Modeling of Charged Defects in Silicon and 2D Field-Effect Transistors";
Reviewer: T. Grasser, L. Larcher; E360, 2015, oral examination: 18.12.2015.

126. M. Moradinasab:
"Optical Properties of Semiconductor Nanostructures";
Reviewer: H. Kosina, T. Fromherz; E360, 2015, oral examination: 24.04.2015.

125. Yu. Illarionov:
"Tunnel Carrier Transport and Related Physical Phenomena in Gold - Calcium Fluoride - Silicon (111) Structures";
Reviewer: M. I. Vexler, A. Baraban, L. Goray; Ioffe Institute, 2015, oral examination: 22.01.2015.

124. A. P. Singulani:
"Advanced Methods for Mechanical Analysis and Simulation of Through Silicon Vias";
Reviewer: S. Selberherr, O. Thomas; E360, 2014, oral examination: 07.07.2014.

123. D. Osintsev:
"Modeling Spintronic Effects in Silicon";
Reviewer: V. Sverdlov, D. Süss; E360, 2014, oral examination: 28.05.2014.

122. H. Mahmoudi:
"Devices and Circuits for Stateful Logic and Memristive Sensing Applications";
Reviewer: V. Sverdlov, B. Meinerzhagen; E360, 2014, oral examination: 28.04.2014.

121. M. Bina:
"Charge Transport Models for Reliability Engineering of Semiconductor Devices";
Reviewer: T. Grasser, C. Jungemann; E360, 2014, oral examination: 25.03.2014.

120. A. Makarov:
"Modeling of Emerging Resistive Switching Based Memory Cells";
Reviewer: V. Sverdlov, S. Cristoloveanu; E360, 2014, oral examination: 18.03.2014.

119. J. Weinbub:
"Frameworks for Micro- and Nanoelectronics Device Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, A. Asenov; E360, 2014, oral examination: 17.02.2014.

118. G. Pobegen:
"Degradation of electrical parameters of power semiconductor devices - process influences and modeling";
Reviewer: T. Grasser, P. Hadley; E360, 2013, oral examination: 05.12.2013.

117. H. Karamitaheri:
"Thermal and Thermoelectric Properties of Nanostructures";
Reviewer: H. Kosina, E. Bauer; E360, 2013, oral examination: 18.07.2013.

116. F. Schanovsky:
"Atomistic Modeling in the Context of the Bias Temperature Instability";
Reviewer: T. Grasser, A. Schenk; E360, 2013, oral examination: 19.03.2013.

115. I. Starkov:
"Comprehensive Physical Modeling of Hot-Carrier Induced Degradation";
Reviewer: T. Grasser, M. Gröschl; E360, 2013, oral examination: 14.01.2013.

114. Rui Huang:
"Stress and Microstructural Evolution of Electroplated Copper Films";
Reviewer: T. Grasser, G. Dehm; E360, 2013, oral examination: 09.01.2013.

113. L. Filipovic:
"Topography Simulation of Novel Processing Techniques";
Reviewer: S. Selberherr, D. Vasileska; E360, 2012, oral examination: 17.12.2012.

112. O. Triebl:
"Reliability Issues in High Voltage Semiconductor Devices";
Reviewer: T. Grasser, M. Gröschl; E360, 2012, oral examination: 24.10.2012.

111. W. Gös:
"Hole Trapping and the Negative Bias Temperature Instability";
Reviewer: T. Grasser, D. Süss; E360, 2011, oral examination: 22.12.2012.

110. K. Rupp:
"Deterministic Numerical Solution of the Boltzmann Transport Equation";
Reviewer: T. Grasser, C. Jungemann; E360, 2011, oral examination: 19.12.2011.

109. Ph. Hehenberger:
"Advanced Characterization of the Bias Temperature Instability";
Reviewer: T. Grasser, M. Gröschl; Institut für Mikroelektronik, 2011, oral examination: 14.12.2011.

108. G. Milovanovic:
"Numerical Modeling of Quantum Cascade Lasers";
Reviewer: H. Kosina, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2011, oral examination: 30.03.2011.

107. P. Schwaha:
"Beyond Atavistic Structures in Scientific Computing";
Reviewer: S. Selberherr, I. Dimov; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 22.12.2010.

106. S. Vitanov:
"Simulation of High Electron Mobility Transistors";
Reviewer: S. Selberherr, R. Quay; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 20.12.2010.

105. T. Aichinger:
"On the Role of Hydrogen in Silicon Device Degradation and Metalization Processing";
Reviewer: T. Grasser, H. Hutter; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 01.09.2010.

104. T. Windbacher:
"Engineering Gate Stacks for Field-Effect Transistors";
Reviewer: S. Selberherr, J. Summhammer; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 25.06.2010.

103. R. Lacerda de Orio:
"Electromigration Modeling and Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, J. W. Swart; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 04.06.2010.

102. O. Ertl:
"Numerical Methods for Topography Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2010, oral examination: 07.05.2010.

101. C. Poschalko:
"The Simulation of Emission from Printed Circuit Boards under a Metallic Cover";
Reviewer: S. Selberherr, G. Brasseur; Institut für Mikroelektronik, 2009, oral examination: 20.11.2009.

100. M. Vasicek:
"Advanced Macroscopic Transport Models";
Reviewer: T. Grasser, J. Summhammer; Institut für Mikroelektronik, 2009, oral examination: 12.10.2009.

99. G. Karlowatz:
"Advanced Monte Carlo Simulation for Semiconductor Devices";
Reviewer: H. Kosina, E. Benes; Institut für Mikroelektronik, 2009, oral examination: 24.06.2009.

98. M. Spevak:
"On the Specification and the Assembly of Discretized Differential Equations";
Reviewer: S. Selberherr, D. Praetorius; Institut für Mikroelektronik, 2008, oral examination: 03.03.2008.

97. L. Li:
"Charge Transport in Organic Semiconductor Materials and Devices";
Reviewer: H. Kosina, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2008, oral examination: 08.02.2008.

96. A. Nentchev:
"Numerical Analysis and Simulation in Microelectronics by Vector Finite Elements";
Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2008, oral examination: 31.01.2008.

95. M. Wagner:
"Simulation of Thermoelectric Devices";
Reviewer: T. Grasser, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 18.12.2007.

94. R. Heinzl:
"Concepts for Scientific Computing";
Reviewer: S. Selberherr, W. Purgathofer; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 18.09.2007.

93. S. Dhar:
"Analytical Mobility Models for Strained Silicon-Based Devices";
Reviewer: H. Kosina, G. Magerl; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 30.08.2007.

92. R. Entner:
"Modeling and Simulation of Negative Bias Temperature Instability";
Reviewer: T. Grasser, G. Magerl; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 13.08.2007.

91. M. Pourfath:
"Numeric Study of Quantum Transport in Carbon Nanotube-Based Transistors";
Reviewer: H. Kosina, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 03.07.2007.

90. S. Holzer:
"Optimization for Enhanced Thermal Technology CAD Purposes";
Reviewer: T. Grasser, H. Schichl; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 28.06.2007.

89. E. Ungersböck:
"Advanced Modeling of Strained CMOS Technology";
Reviewer: H. Kosina, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 23.04.2007.

88. H. Kim:
"Design, simulation and fabrication of micro/nano functional structures using ION beams";
Reviewer: G. Hobler, H. Kosina; Institut für Festkörperelektronik, 2007, oral examination: 20.04.2007.

87. Ch. Hollauer:
"Modelling of Thermal Oxidation and Stress Effects";
Reviewer: S. Selberherr, M. Vellekoop; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 18.04.2007.

86. J. Schweda:
"Analysis of Shift Mechanisms in BiCMOS Hall Devices with Scope of a Precise SPICE Simulation Model";
Reviewer: K. Riedling, S. Selberherr; Institut für Sensor- und Aktuatorsysteme, 2007, oral examination: 16.04.2007.

85. R. Wittmann:
"Miniaturization Problems in CMOS Technology: Investigation of Doping Profiles and Reliability";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 27.02.2007.

84. W. Wessner:
"Mesh Refinement Techniques for TCAD Tools";
Reviewer: S. Selberherr, W. Purgathofer; Institut für Mikroelektronik, 2007, oral examination: 09.01.2007.

83. A. Sheikholeslami:
"Topography Simulation of Deposition and Etching Processes";
Reviewer: S. Selberherr, K. Riedling; Institut für Mikroelektronik, 2006, oral examination: 06.10.2006.

82. R. Minixhofer:
"Integration Technology Simulation into the Semiconductor Manufacturing Environment";
Reviewer: S. Selberherr, W. Pribyl; Institut für Mikroelektronik, 2006, oral examination: 31.03.2006.

81. M. Blaho:
"Experimental Characterisation of Smart Power Technology Devices Stressed by High Energy Pulses";
Reviewer: E. Gornik, E. Langer; Institut für Festkörperelektronik, 2005, oral examination: 03.10.2005.

80. H. Ceric:
"Numerical Techniques in Modern TCAD";
Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2005, oral examination: 29.04.2005.

79. S. Wagner:
"Small-Signal Device and Circuit Simulation";
Reviewer: T. Grasser, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2005, oral examination: 22.04.2005.

78. J.M. Park:
"Novel Power Devices for Smart Power Applications";
Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 07.12.2004.

77. J. Cervenka:
"Three-Dimensional Mesh Generation for Device and Process Simulation";
Reviewer: T. Grasser, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 20.10.2004.

76. R. Kosik:
"Numerical Challenges on the Road to NanoTCAD";
Reviewer: T. Grasser, Ch. Schmeiser; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 09.09.2004.

75. T. Ayalew:
"SiC Semiconductor Devices Technology, Modeling and Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2004, oral examination: 26.02.2004.

74. S. Smirnov:
"Physical Modeling of Electron Transport in Strained Silicon and Silicon-Germanium";
Reviewer: H. Kosina, K. Unterrainer; Institut für Mikroelektronik, 2003, oral examination: 17.12.2003.

73. A. Gehring:
"Simulation of Tunneling in Semiconductor Devices";
Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2003, oral examination: 05.12.2003.

72. R. Rodriguez-Torres:
"Three-Dimensional Simulation of Split-Drain MAGFETs";
Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2003, oral examination: 13.05.2003.

71. T. Binder:
"Rigorous Integration of Semiconductor Process and Device Simulators";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 30.12.2002.

70. M. Gritsch:
"Numerical Modeling of Silicon-on-Insulator MOSFETs";
Reviewer: H. Kosina, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 20.12.2002.

69. C. Heitzinger:
"Simulation and Inverse Modeling of Semiconductor Manufacturing Processes";
Reviewer: S. Selberherr, R. Chabicovsky; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 20.12.2002.

68. R. Klima:
"Three-Dimensional Device Simulation with Minimos-NT";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 19.12.2002.

67. C. Harlander:
"Numerische Berechnung von Induktivitäten in dreidimensionalen Verdrahtungsstrukturen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2002, oral examination: 12.12.2002.

66. R. Quay:
"Analysis and Simulation of High Electron Mobility Transistors";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 18.09.2001.

65. C. Troger:
"Modellierung von Quantisierungseffekten in Feldeffekttransistoren";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 18.06.2001.

64. R. Sabelka:
"Dreidimensionale Finite Elemente Simulation von Verdrahtungsstrukturen auf Integrierten Schaltungen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 21.05.2001.

63. K. Dragosits:
"Modeling and Simulation of Ferroelectric Devices";
Reviewer: S. Selberherr, H. Hauser; Institut für Mikroelektronik, 2001, oral examination: 29.01.2001.

62. V. Palankovski:
"Simulation of Heterojunction Bipolar Transistors";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 12.12.2000.

61. A. Hössinger:
"Simulation of Ion Implantation for ULSI Technology";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 11.09.2000.

60. W. Pyka:
"Feature Scale Modeling for Etching and Deposition Processes in Semiconductor Manufacturing";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 11.05.2000.

59. J. Lorenz:
"Diskretisierung und Gittergeneration für die mehrdimensionale Simulation von Implantation und Diffusion";
Reviewer: H. Ryssel, S. Selberherr; Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg und Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 28.04.2000.

58. P. Fleischmann:
"Mesh Generation for Technology CAD in Three Dimensions";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 24.02.2000.

57. M. Stockinger:
"Optimization of Ultra-Low-Power CMOS Transistors";
Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 25.01.2000.

56. R. Mlekus:
"Object-Oriented Algorithm and Model Management in TCAD Applications";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 2000, oral examination: 13.01.2000.

55. R. Plasun:
"Optimization of VLSI Semiconductor Devices";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 21.10.1999.

54. M. Rottinger:
"Selected Simulations of Semiconductor Structures";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 25.06.1999.

53. R. Strasser:
"Rigorous TCAD Investigations on Semiconductor Fabrication Technology";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 23.06.1999.

52. T. Grasser:
"Mixed-Mode Device Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 21.05.1999.

51. R.M. Escadas Ramos Martins:
"On the Design of Very Low Power Integrated Circuits";
Reviewer: S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 1999, oral examination: 25.02.1999.

50. M. Radi:
"Three-Dimensional Simulation of Thermal Oxidation";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 02.12.1998.

49. M. Knaipp:
"Modellierung von Temperatureinflüssen in Halbleiterbauelementen";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 21.10.1998.

48. G. Schrom:
"Ultra-Low-Power CMOS Technology";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 07.07.1998.

47. H. Kirchauer:
"Photolithography Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 21.04.1998.

46. H. Brech:
"Optimization of GaAs Based High Electron Mobility Transistors by Numerical Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998, oral examination: 03.04.1998.

45. G. Kaiblinger-Grujin:
"Physikalische Modellierung und Monte-Carlo-Simulation der Elektronenbeweglichkeit in Silizium";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 13.03.1998.

44. E. Leitner:
"Diffusionsprozesse in dreidimensionalen Strukturen";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 05.02.1998.

43. C. Köpf:
"Modellierung des Elektronentransports in Verbindungshalbleiterlegierungen";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 16.12.1997.

42. C. Pichler:
"Integrated Semiconductor Technology Analysis";
Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 22.05.1997.

41. C. Wasshuber:
"About Single-Electron Devices and Circuits";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997, oral examination: 18.02.1997.

40. W. Tuppa:
"VMAKE - A CASE-Oriented Configuration Management Utility";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 28.11.1996.

39. W. Bohmayr:
"Simulation der Ionenimplantation in kristalline Siliziumstrukturen";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 28.10.1996.

38. H. Puchner:
"Advanced Process Modeling for VLSI Technology";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 31.05.1996.

37. T. Simlinger:
"Simulation von Heterostruktur-Feldeffekttransistoren";
Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 30.05.1996.

36. G. Rieger:
"Ein graphischer Editor für Entwurf von Halbleiterbauteilen";
Reviewer: S. Selberherr, W. Purgathofer; Institut für Mikroelektronik, 1996, oral examination: 23.05.1996.

35. R. Deutschmann:
"Entwicklung eines physikalischen HFET-Modells: Parameterextraktion und Verifikation";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1995, oral examination: 10.10.1995.

34. M. Hackel:
"Transport und Injektion von Ladungsträgern in MOS-Strukturen mit der Monte-Carlo Methode";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1995, oral examination: 10.10.1995.

33. N. Khalil:
"ULSI Characterization with Technology Computer-Aided Design";
Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1995, oral examination: 31.05.1995.

32. F. Fasching:
"The Viennese Integrated System for Technology CAD Applications - Data Level Design and Implementation";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 17.11.1994.

31. E. Strasser:
"Simulation von Topographieprozessen in der Halbleiterfertigung";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 17.11.1994.

30. R. Bauer:
"Numerische Berechnung von Kapazitäten in dreidimensionalen Verdrahtungsstrukturen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Haas; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 16.11.1994.

29. M. Stiftinger:
"Simulation und Modellierung von Hochvolt-DMOS-Transistoren";
Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 06.10.1994.

28. S. Halama:
"The Viennese Integrated System for Technology CAD Applications";
Reviewer: S. Selberherr, D. Dietrich; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 27.05.1994.

27. H. Brand:
"Thermoelektrizität und Hydrodynamik";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 26.05.1994.

26. C. Fischer:
"Bauelementsimulation in einer computergestützten Entwurfsumgebung";
Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1994, oral examination: 26.05.1994.

25. H. Pimingstorfer:
"Integration und Anwendung von Simulatoren in der CMOS-Entwicklung";
Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 30.11.1993.

24. P. Habas:
"Analysis of Physical Effects in Small Silicon MOS Devices";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 17.11.1993.

23. H. Stippel:
"Simulation der Ionen-Implantation";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 17.11.1993.

22. K. Wimmer:
"Two-Dimensional Nonplanar Process Simulation";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1993, oral examination: 18.06.1993.

21. H. Kosina:
"Simulation des Ladungstransportes in elektronischen Bauelementen mit Hilfe der Monte-Carlo-Methode";
Reviewer: S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1992, oral examination: 09.06.1992.

20. O. Heinreichsberger:
"Transiente Simulation von Silizium MOSFETs";
Reviewer: S. Selberherr, R. Weiss; Institut für Mikroelektronik, 1992, oral examination: 02.06.1992.

19. P. Lindorfer:
"Numerische Simulation von Galliumarsenid MESFETs";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1991, oral examination: 15.03.1991.

18. P. Dickinger:
"Hochvolt DMOS Transistoren: Analyse und Optimierung";
Reviewer: S. Selberherr, F. Paschke; Institut für Mikroelektronik, 1990, oral examination: 15.06.1990.

17. K. Wagner:
"Simulation von Volumenwelleneffekten in SAW-Bauelementen";
Reviewer: F. Seifert, S. Selberherr; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1990, oral examination: 20.03.1990.

16. G. Nanz:
"Numerische Methoden in der zweidimensionalen Halbleiterbauelementsimulation";
Reviewer: S. Selberherr, R. Weiss; Institut für Mikroelektronik, 1989, oral examination: 23.11.1989.

15. J. Demel:
"JANAP - Ein Programm zur Simulation von elektrischen Netzwerken";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Mikroelektronik, 1989, oral examination: 16.11.1989.

14. W. Kausel:
"Zweidimensionale transiente Simulation von Halbleiterbauelementen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Mikroelektronik, 1989, oral examination: 02.03.1989.

13. A. Seidl:
"Zweidimensionale Simulation der lokalen Oxidation von Silizium";
Reviewer: H. Ryssel, S. Selberherr; Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg und Institut für Mikroelektronik, 1988, oral examination: 23.02.1989.

12. G. Hobler:
"Simulation der Ionenimplantation in ein-, zwei- und dreidimensionalen Strukturen";
Reviewer: S. Selberherr, W. Fallmann; Institut für Mikroelektronik, 1988, oral examination: 23.11.1988.

11. M. Thurner:
"Dreidimensionale Modellierung von MOS-Transistoren";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Mikroelektronik, 1988, oral examination: 25.10.1988.

10. A.R. Baghai-Wadji:
"Berechnung der Quellenverteilung zur Anregung von akustischen Wellen in Oberflächenwellenfiltern";
Reviewer: F. Seifert, S. Selberherr; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1987, oral examination: 29.10.1987.

9. O. Männer:
"Knotenvariablen-Analyse von Oberflächenwellenfiltern";
Reviewer: F. Seifert, S. Selberherr; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1987, oral examination: 29.09.1987.

8. W. Ochsenreiter:
"Fehlertolerante Uhrensynchronisation in verteilten Realzeitsystemen";
Reviewer: H. Kopetz, S. Selberherr; TU Wien, 1987, oral examination: 27.05.1987.

7. W. Jüngling:
"Entwicklung und Auswertung verbesserter Modelle für die Prozeß- und Bauelementesimulation";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1986, oral examination: 05.06.1986.

6. E. Langer:
"Anregung und Ausbreitung elektroakustischer Wellen in piezoelektrischen Kristallen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1986, oral examination: 28.02.1986.

5. P. Pichler:
"Numerische Simulation kritischer Prozeßschritte in der Halbleitertechnik";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1985, oral examination: 30.10.1985.

4. F. Straker:
"Numerische Berechnung von Kapazitäten in hochintegrierten Schaltungen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1985, oral examination: 30.10.1985.

3. A. Franz:
"Numerische Simulation von Leistungsfeldeffekthalbleiterbauelementen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1984, oral examination: 21.11.1984.

2. G. Franz:
"Numerische Simulation von bipolaren Leistungshalbleiterbauelementen";
Reviewer: S. Selberherr, H. Pötzl; Institut für Allgemeine Elektrotechnik und Elektronik, 1984, oral examination: 21.11.1984.

1. S. Selberherr:
"Zweidimensionale Modellierung von MOS-Transistoren";
Reviewer: H. Pötzl, F. Paschke; Institut für Physikalische Elektronik, 1981, oral examination: 05.03.1981.